Д. Брандон, У. Каплан - Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля (Брандон Д., Каплан У.)
автор: Брандон Д., Каплан У. категория: Наука и образование
Первый учебник на русском языке по современным методам исследования и материаловедения.
Описаны рентгеновские методы анализа, физические основы оптической и электронной микроскопии.
Книга адресована широкому кругу ученых, инженеров, студентов.
(реклама в файл не вставлена, поэтому страниц не 384, а 377)
ISBN: 5-94836-018-0
Издатель: Техносфера
Год издания: 2004
Страниц: 377
Качество: приемлемое
комментариев нет